2025年3月3日上午9:00，由304永利集团官网入口先进材料实验中心主办的“材料分析测试技术学堂”第50期——“透射电子显微镜 (TEM) 基本原理及应用”在5号教学楼1011会议室举行。讲座邀请了应用工程师李根，围绕透射电子显微镜 (TEM) 的基本原理及功能应用进行了详细介绍，学校50余名师生参加了此次讲座。

李根介绍了透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）及扫描透射 STEM 模式 的基本原理及在材料结构表征等多方面的应用。TEM是一种利用高能电子束穿透样品来观察其内部结构的显微技术。通过这种技术，材料的高分辨率（纳米及原子尺度空间分辨）的图像可以轻松获得，用于分析样品的微观结构和元素组成。TEM 中的扫描透射 STEM 模式，能够进行原子序数衬度成像，提供样品的多种衬度信息，并可与 EDS 能谱仪联用，对样品的微区进行成分分析，确定元素种类及空间分布，结合旋转样品技术，可实现三维空间成像。另外，李根结合先进材料实验中心实验室TEM的功能进行了一一讲解，与老师们和同学们就提出的各种问题进行了深入讨论。

“材料分析测试技术学堂”是实验中心搭建的培养学生科研能力的特色学习平台，自创办以来，已举办五十期，深受广大师生欢迎。本次学堂讲座收获了很多的反馈好评：“在讲座中更加深入学习了透射电子显微镜的原理、应用、操作方法等，对我的科研实验有非常大的帮助，受益匪浅！”、“讲解由浅入深，内容详尽，对于提出的问题进行耐心解答，对于科研具有非常重要的指导作用”、“I have learned the details from history to principles of TEM. The seminar fills the gaps of my knowledge in TEM. It was very helpful events and thanks to Talented translator. Hopefully waiting forward upcoming events.”、“很透彻的了解了TEM的原理以及应用，在做科研分析的时候可以从原理角度更好理解，以及可以更好的利用测试分析实验，同时更好的解析数据提升研究价值”。

今后，先进材料实验中心将继续面向广大师生需求，举办更加精彩的分析测试技术类培训和讲座，充分发挥公共实验平台在“双一流”建设中的重要作用。